Промышленный инспекционный микроскоп Nexcope NX2000

Промышленный инспекционный микроскоп NX2000 идеально подходит для изучения и тестирования микроэлектроники и полупроводников. Благодаря своим характеристикам, он способен адаптироваться к различным образцам и этапам производства, например, при изготовлении ЖК-дисплеев.

Промышленный инспекционный микроскоп NX2000 сочетает в себе высокую функциональность и адаптивность, обеспечивая точные и надежные результаты при тестировании и контроле качества микроэлектронных и полупроводниковых изделий.

Основные параметры:
• Подвижный сверхвысокий штатив: NX2000 оснащен подвижным сверхвысоким штативом с ходом 200 мм, что позволяет работать с образцами различных размеров и форм.
• Просторный предметный стол: Стол размером 355 х 305 мм обеспечивает достаточное пространство для размещения крупных образцов и удобство работы с ними.
• Универсальность: Способность адаптироваться к различным этапам производственного процесса делает NX2000 универсальным инструментом для микроэлектроники и полупроводников.
• Гибкость в применении: Штатив и столик позволяют легко настраивать микроскоп под конкретные задачи и образцы.

Технические характеристики:
Метод наблюдения: Светлое поле, Темное поле, Поляризация, Фазовый контраст, DIC
Источник света: Светодиодная лампа (LED)
Расположение подсветки: Верхняя, Комбинированная, Нижняя
Способ освещения: Отраженный свет, Проходящий свет

• контроль размеров и геометрии деталей
• измерение шероховатости и отклонений формы
• анализ химического состава и структуры материалов