Koh Young Zenith L — система 3D автоматической оптической инспекции AOI для контроля SMT-производства

Система 3D автоматической оптической инспекции AOI для контроля качества SMT Koh Young Zenith L представляет собой промышленную систему автоматической оптической инспекции AOI с использованием технологии трехмерного измерения. Оборудование предназначено для контроля качества монтажа электронных компонентов и анализа геометрии соединений на печатных платах в условиях современного SMT-производства.

Система выполняет точные трехмерные измерения компонентов, паяных соединений и поверхностей, обеспечивая высокий уровень обнаружения дефектов и повышая стабильность производственного процесса. В отличие от традиционных систем инспекции, Zenith L выполняет реальное трехмерное измерение объектов, что позволяет выявлять дефекты, недоступные для двумерного анализа.

Система анализирует форму компонентов, профиль пайки и геометрию соединений. Система автоматически компенсирует деформацию печатной платы, обеспечивая точность измерений независимо от состояния платы. Это особенно важно при производстве сложных электронных изделий. Zenith L предназначена для работы в составе автоматизированных SMT-линий и обеспечивает автоматический контроль качества печатных плат без снижения производительности производства.

Система позволяет выполнять анализ результатов инспекции, выявлять причины дефектов и оптимизировать технологический процесс производства электроники.

Технические характеристики:
Скорость инспекции: ~0,30 – 0,87 с / FOV (в зависимости от разрешения и условий инспекции)